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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
25-Jul-2011Sputter deposition of thin films on different substrate materials analyzed by means of modulated IR radiometryMacedo, Francisco; Chotikaprakhan, S.; Kijamnajsuk, Puchong; Vaz, F.; Faria Junior, Roberto; Gibkes, Juergen; Pelzl, J.; Bein, Bruno K.ArtigoAcesso restrito UMinho
2017Universal description of channel plasmons in two-dimensional materialsGonçalves, Paulo André Dias; Bozhevolnyi, Sergey I.; Mortensen, N. Asger; Peres, N. M. R.ArtigoAcesso aberto
2017Raman and IR-ATR spectroscopy studies of heteroepitaxial structures with a GaN:C top layerCerqueira, M. F.; Vieira, L. G.; Alves, A.; Correia, R.; Huber, M.; Andreev, A.; Bonanni, A.; Vasilevskiy, MikhailArtigoAcesso aberto
4-Abr-2017Excitonic effects in the optical properties of 2D materials: An equation of motion approachChaves, A. J.; Ribeiro, R. M.; Frederico, T.; Peres, N. M. R.ArtigoAcesso aberto
2018Adsorption of H₂, O₂, H₂O, OH and H on monolayer MoS₂Ferreira, Fábio; Carvalho, Alexandra; Moura, Ícaro J M; Coutinho, José; Ribeiro, R. M.ArtigoAcesso aberto
2018Wafer scale fabrication of graphene microelectrode arrays for the detection of DNA hybridizationCampos, R.; Machado Jr., G.; Cerqueira, M. F.; Borme, J.; Alpuim, P.ArtigoAcesso aberto
2010Nanoscale color control of TiO2 films with embedded Au nanoparticlesTorrell, M.; Cunha, L.; Kabir, R.; Cavaleiro, A.; Vasilevskiy, Mikhail; Vaz, F.ArtigoAcesso aberto
2010Effect of grain size and hydrogen passivation on the electrical properties of nanocrystalline silicon filmsCerqueira, M. F.; Semikina, T. V.; Baidus, N. V.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
2018Reductive nanometric patterning of graphene oxide paper using electron beam lithographyGonçalves, Gil; Borme, Jérôme; Bdkin, Igor; González-Mayorga, Ankor; Irurueta, Gonzalo; Nogueira, Helena I.S.; Serrano, María C.; Alpuim, P.; Marques, Paula A.A.P.ArtigoAcesso aberto
2010Crystal size and crystalline volume fraction effects on the Erbium emission of nc-Si:Er grown by r.f. sputteringCerqueira, M. F.; Stepikhova, M.; Kozanecki, A.; Andrês, G.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
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