Pesquisa avançada

.

Filtros atuais:

Usar filtros adicionais para refinar os resultados da pesquisa:

 |          

Lista de resultados: 1-8 de um total de 8 resultados (tempo de pesquisa: 0.0 segundos).
DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2009Structural and photoluminescence studies of erbium implanted nanocrystalline silicon thin filmsCerqueira, M. F.; Alpuim, P.; Filonovich, Sergej; Alves, E.; Rolo, Anabela G.; Andrês, G.; Soares, J.; Kozanecki, A.ArtigoAcesso aberto
2011Resonant raman scattering in ZnO : Mn and ZnO: Mn : Al thin films grown by RF sputteringCerqueira, M. F.; Vasilevskiy, Mikhail; Oliveira, Fernando; Rolo, Anabela G.; Viseu, T. M. R.; Campos, J. Ayres de; Alves, E.; Correia, RosárioArtigoAcesso aberto
2014IBA study of SiGe/SiO2 nanostructured multilayersBarradas, N. P.; Alves, E.; Vieira, E. M. F.; Parisini, A.; Conde, O.; Martín-Sánchez, J.; Rolo, Anabela G.; Chahboun, A.; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso restrito UMinho
2010Raman study of doped-ZnO thin films grown by rf sputteringCerqueira, M. F.; Rolo, Anabela G.; Viseu, T. M. R.; Campos, J. Ayres de; Arôso, T. de Lacerda; Oliveira, Fernando; Vasilevskiy, Mikhail; Alves, E.Artigo em ata de conferênciaAcesso aberto
Set-2015Raman study of insulating and conductive ZnO: (Al, Mn) thin filmsCerqueira, M. F.; Viseu, T. M. R.; Campos, J. Ayres de; Rolo, Anabela G.; Lacerda-Arôso, T. de; Oliveira, F.; Bogdanovic-Radovic, I.; Alves, E.; Vasilevskiy, MikhailArtigoAcesso aberto
24-Jul-2017SiGe layer thickness effect on the structural and optical properties of well-organized SiGe/SiO2 multilayersVieira, E. M. F.; Toudert, J.; Rolo, Anabela G.; Parisini, A.; Leitão, J. P.; Correia, M. R.; Franco, N.; Alves, E.; Chahboun, Adil; Martín-Sánchez, J.; Serna, R.; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso restrito UMinho
2010Room temperature paramagnetism of ZnO:Mn films grown by RF-sputteringOliveira, Filipe André; Cerqueira, M. F.; Vasilevskiy, Mikhail; Viseu, T. M. R.; Campos, J. Ayres de; Rolo, Anabela G.; Martins, J. S.; Sobolev, N. A.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
2010Electrical and raman scattering studies of ZnO:P and ZnO:Sb thin filmsCampos, J. Ayres de; Viseu, T. M. R.; Rolo, Anabela G.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Lacerda-Arôso, T. de Lacerda; Cerqueira, M. F.ArtigoAcesso aberto
  • Anterior
  • 1
  • Próxima