Pesquisa avançada

.

Filtros atuais:

Usar filtros adicionais para refinar os resultados da pesquisa:

 |          

Lista de resultados: 1-5 de um total de 5 resultados (tempo de pesquisa: 0.0 segundos).
DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2013Influence of stoichiometry and structure on the optical properties of AlNxOy filmsBorges, Joel Nuno Pinto; Barradas, N. P.; Alves, Eduardo; Beaufort, Marie France; Eyidi, Dominique; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
2011Preparation and characterization of CrNxOy thin films: The effect of composition and structural features on the electrical behaviorArvinte, R.; Borges, Joel Nuno Pinto; Sousa, R. E.; Munteanu, Florentina-Daniela; Barradas, N. P.; Alves, E.; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
2011Influence of the deposition parameters on the growth of SiGe nanocrystals embedded in Al2O3 matrixVieira, E. M. F.; Pinto, S. R. C.; Levichev, S.; Rolo, Anabela G.; Chahboun, A.; Buljan, M.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Bernstorff, S.; Conde, O.; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso restrito UMinho
Jun-2012Electrical properties of AlNxOy thin films prepared by reactive magnetron sputteringBorges, Joel Nuno Pinto; Martin, N.; Barradas, Nuno P.; Alves, E.; Eyidi, D.; Beaufort, Marie France; Riviere, J. P.; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
14-Abr-2011Low-temperature fabrication of layered self organized ge clusters by RF-sputteringPinto, S. R. C.; Rolo, Anabela G.; Buljan, M.; Chahboun, A.; Bernstorff, S.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Kashtiban, R. J.; Bangert, U.; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso aberto
1-5 de um total de 5 resultados (tempo de pesquisa: 0.0 segundos).
  • Anterior
  • 1
  • Próxima

Descobrir