Pesquisa avançada

.

Filtros atuais:

Usar filtros adicionais para refinar os resultados da pesquisa:

 |          

Lista de resultados: 1-10 de um total de 19 resultados (tempo de pesquisa: 0.0 segundos).
DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2013Influence of stoichiometry and structure on the optical properties of AlNxOy filmsBorges, Joel Nuno Pinto; Barradas, N. P.; Alves, Eduardo; Beaufort, Marie France; Eyidi, Dominique; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
2011Electrical properties of AlNxOy deposited by DC magnetron sputteringBorges, Joel Nuno Pinto; Arvinte, R.; Ramos, Marta M. D.; Martin, N.; Vaz, F.; Marques, L.Poster em conferênciaAcesso aberto
Mai-2012Properties of MeNxOy thin films prepared by reactive DC magnetron sputteringBorges, Joel Nuno Pinto; Vaz, F.; Marques, L.Poster em conferênciaAcesso aberto
2011AlNxOy thin films for electrical applicationsBorges, Joel Nuno Pinto; Arvinte, R.; Sousa, R. E.; Vaz, F.; Marques, L.Resumo em ata de conferência Acesso aberto
Set-2012Optical emission spectroscopy study of a DC magnetron discharge in Ar/(O2-N2)Borges, Joel Nuno Pinto; Martin, Nicolas; Vaz, F.; Marques, L.Poster em conferênciaAcesso aberto
2011Preparation and characterization of CrNxOy thin films: The effect of composition and structural features on the electrical behaviorArvinte, R.; Borges, Joel Nuno Pinto; Sousa, R. E.; Munteanu, Florentina-Daniela; Barradas, N. P.; Alves, E.; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
2010AlNxOy thin films deposited by DC reactive magnetron sputteringBorges, Joel Nuno Pinto; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
Jun-2012Electrical properties of AlNxOy thin films prepared by reactive magnetron sputteringBorges, Joel Nuno Pinto; Martin, N.; Barradas, Nuno P.; Alves, E.; Eyidi, D.; Beaufort, Marie France; Riviere, J. P.; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
8-Set-2013The role of composition, structure and morphology on the electrical, optical and electrochemical responses of AlNxOy filmsBorges, Joel Nuno Pinto; Martin, N.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Eyidi, D.; Girardeau, T.; Fonseca, C.; Vaz, F.; Marques, L.Comunicação em painel Acesso aberto
Set-2013Influence of composition, bonding characteristics and microstructure on the electrochemical and optical stability of AlOxNy thin filmsBorges, Joel Nuno Pinto; Fonseca, C.; Barradas, Nuno P.; Alves, Eduardo; Girardeau, Thierry; Paumier, Fabien; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
1-10 de um total de 19 resultados (tempo de pesquisa: 0.0 segundos).

Descobrir