Percorrer por assunto Spectroscopic ellipsometry
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Data | Título | Autor(es) | Tipo | Acesso |
2018 | Influence of magnetron sputtering conditions on the chemical bonding, structural, morphological and optical behavior of Ta1 − xOx coatings | Alves, C. F. Almeida; Mansilla, C.; Pereira, L., et al. | Artigo | Acesso restrito UMinho |
2003 | Interrelation between microstructure and optical properties of erbium-doped nanocrystalline thin films | Losurdo, M.; Cerqueira, M. F.; Alves, E., et al. | Artigo | Acesso aberto |
2001 | Spectroscopic ellipsometry study of the layer structure and impurity content in Er-doped nanocrystalline silicon thin films | Losurdo, M.; Cerqueira, M. F.; Stepikhova, M., et al. | Artigo | Acesso aberto |
2007 | Visible and infrared photoluminescence from erbium-doped silicon nanocrystals produced by rf sputtering | Cerqueira, M. F.; Losurdo, M.; Monteiro, T., et al. | Artigo | Acesso aberto |