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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
7-Fev-2013Charge trapping properties and retention time in amorphous SiGe/SiO2 nanolayersVieira, E. M. F.; Diaz, Regis; Grisolia, Jeremie; Parisini, Andrea; Martín-Sánchez, J.; Levichev, S.; Rolo, Anabela G.; Chahboun, A.; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso restrito UMinho
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