Percorrer por assunto spectroscopic ellipsometry
Mostrar 1-3 de um total de 3 resultados.
Data | Título | Autor(es) | Tipo | Acesso |
2006 | Erbium-doped silicon nanocrystals grown by r.f. sputtering method: competition between oxygen and silicon to get erbium | Cerqueira, M. F.; Stepikhova, M.; Losurdo, M., et al. | Artigo | Acesso aberto |
2003 | Influence of crystals distribution on the photoluminescence properties of nanocrystalline silicon thin films | Cerqueira, M. F.; Stepikhova, M.; Losurdo, M., et al. | Artigo | Acesso aberto |
24-Jul-2017 | SiGe layer thickness effect on the structural and optical properties of well-organized SiGe/SiO2 multilayers | Vieira, E. M. F.; Toudert, J.; Rolo, Anabela G., et al. | Artigo | Acesso restrito UMinho |