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Data | Título | Autor(es) | Tipo | Acesso |
Abr-2016 | 3D modeling of electrostatic interaction between atomic force microscopy probe and dielectric surface: impact of tip shape and cantilever contribution | Boularas, A.; Baudoin, F.; Teyssedre, G., et al. | Artigo | Acesso restrito UMinho |
29-Ago-2014 | 3D modelling of electrostatic force distance curve between the AFM probe and dielectric surface | Boularas, A.; Baudoin, F.; Teyssedre, Gilles, et al. | Artigo em ata de conferência | Acesso restrito UMinho |
2013 | Multi-dimensional modelling of electrostatic forces between atomic force microscopy tip and dielectric surface | Boularas, A.; Baudouin, F.; Teyssedre, Gilles, et al. | Artigo em ata de conferência | Acesso restrito UMinho |