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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
Mai-2017Relationship between nano-architectured Ti1−xCux thin film and electrical resistivity for resistance temperature detectorsFerreira, Armando José Barros; Borges, Joel Nuno Pinto; Lopes, C.; Rodrigues, M. S.; Lanceros-Méndez, S.; Vaz, F.ArtigoAcesso aberto
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