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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
Jun-2018Annealing induced effect on the physical properties of ion-beam sputtered 0.5 Ba(Zr0.2Ti0.8)O3 – 0.5 (Ba0.7Ca0.3)TiO3-δ ferroelectric thin filmsOliveira, M. J. S.; Silva, J. P. B.; Veltruská, K.; Matolín, V.; Sekhar, K. C.; Moreira, J. Agostinho; Pereira, M.; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso restrito UMinho
2015Ferroelectric phase transitions studies in 0.5Ba(Zr0.2Ti0.8) O3-0.5(Ba0.7Ca0.3)TiO3 ceramicsSilva, J. P. B.; Queirós, E. C.; Tavares, P. B.; Sekhar, K. C.; Kamakshi, Koppole; Moreira, J. A.; Almeida, A.; Pereira, Mário; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso restrito UMinho
2012Effect of Pt bottom electrode texture selection on the tetragonality and physical properties of Ba0.8Sr0.2TiO3 thin films produced by pulsed laser depositionSilva, José Pedro Basto; Sekhar, K. C.; Almeida, A.; Moreira, J. Agostinho; Martín-Sánchez, J.; Pereira, Mário; Khodorov, Anatoli Anatolievich; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso aberto
2016Light-controlled resistive switching in laser-assisted annealed Ba0.8Sr0.2TiO3 thin filmsSilva, J. P. B.; Kamakshi, Koppole; Sekhar, K. C.; Moreira, J. A.; Almeida, A.; Pereira, Mário; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso restrito UMinho
2018Impact of the ferroelectric layer thickness on the resistive switching characteristics of ferroelectric/dielectric structuresSilva, J. M. B.; Silva, José Pedro Basto; Sekhar, K. C.; Pereira, Mário; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso restrito UMinho
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