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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2012Structural and electrical studies of ultrathin layers with Si0.7Ge0.3 nanocrystals confined in a SiGe/SiO2 superlatticeVieira, E. M. F.; Martín-Sánchez, J.; Rolo, Anabela G.; Parisini, Andrea; Buljan, Maja; Capan, I.; Alves, Eduardo; Barradas, Nuno P.; Conde, Olinda; Bernstorff, Sigrid; Chahboun, A.; Levichev, S.; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso restrito UMinho
2011Influence of the deposition parameters on the growth of SiGe nanocrystals embedded in Al2O3 matrixVieira, E. M. F.; Pinto, S. R. C.; Levichev, S.; Rolo, Anabela G.; Chahboun, A.; Buljan, M.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Bernstorff, S.; Conde, O.; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso restrito UMinho
4-Set-2013Influence of RF-sputtering power on formation of vertically stacked Si1−xGex nanocrystals between ultra-thin amorphous Al2O3 layers: structural and photoluminescence propertiesVieira, E. M. F.; Martín-Sánchez, J.; Roldan, M. A.; Varela, M.; Buljan, Maja; Bernstorff, Sigrid; Barradas, Nuno P.; Franco, Nuno; Correia, M. R.; Rolo, Anabela G.; Pennycook, S. J.; Molina, S. I.; Alves, Eduardo; Chahboun, A.; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso restrito UMinho
2010Structural study of Si1-xGex nanocrystals embedded in SiO2 filmsPinto, S. R. C.; Kashtiban, R. J.; Rolo, Anabela G.; Buljan, M.; Chahboun, A.; Bangert, U.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso restrito UMinho
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