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https://hdl.handle.net/1822/12278
Título: | Estudo estrutural de Nanocristais de Si1-xGex embebidos em matrizes dieléctricas |
Autor(es): | Pinto, S. R. C. |
Orientador(es): | Gomes, M. J. M. Rolo, Anabela G. |
Data: | 16-Dez-2010 |
Resumo(s): | Neste trabalho, apresenta-se um estudo da produção de nanocristais (NCs) e o estudo
das propriedades estruturais de semicondutores imersos em matrizes dieléctricas .
Os NCs foram produzidos pela técnica de pulverização catódica por rádio-frequência,
posteriormente, foram sujeitos a tratamentos térmicos em diferentes atmosferas e temperaturas.
Estudámos as condições que levam à formação de NCs dispersos de forma
homogénea na matriz, de tamanho uniforme, elevada densidade e boa cristalinidade,
e a ordem na posição dos NCs nas diferentes matrizes.
As amostras com NCs embebidos em matrizes dieléctricas foram caracterizados
pelas técnicas de difracção de raios-X (XRD), difusão de raios-X de incidência rasante
(GISAXS), espectroscopia Raman, microscopia de transmissão electrónica de
alta resolução (HRTEM) e espectrometria de Retrodifusão de Rutherford (RBS). O
tamanho dos NCs, distribuição de tamanhos e arranjo espacial foram investigados a
partir de medidas GISAXS e TEM, enquanto o acesso à composição química dos NCs
e à sua estrutura cristalina foi obtido por medidas Raman, HRTEM e difracção de
raios - X. Os resultados demonstram que o tamanho médio e a composição química
dos NCs são fortemente sensíveis aos parâmetros de deposição e tratamentos térmicos
utilizados.
Verifica-se que, em amostras com NCs de Ge de tamanhos grandes em matriz
de Al2O3 podem ficar sujeitos a tensões de compressão. Atribuímos este efeito à
existência da matriz de Al2O3, que em certas condições pode cristalizar e induzir
tensões nos cristais durante o processo de aquecimento/arrefecimento. Em alguns
casos, durante o tratamento térmico o Ge oxida e forma-se GeOx, que sendo volátil
desaparece do filme. Assim, a rede ordenada, previamente formada, dá origem a uma
rede de espaços vazios de tamanho nanométrico.
Relativamente ao sistema Si1−xGex, observa-se a formação de NCs com diferentes
fracções de Ge (0 < x ≤ 1), de tamanho pequeno, com uma estreita distribuição
de tamanhos e bem distribuídos na matriz de SiO2. Neste estudo, é apresentado a
variação da frequência Raman dos modos vibracionais Ge-Ge e Si-Ge, em função da
composição da liga.
Foram produzidas estruturas de multicamadas de SiO2/Si1−xGex+SiO2/SiO2, as
quais foram submetidas a tratamentos térmicos a temperaturas entre 700 oC a 1000
oC. Verificamos que, para temperaturas maiores que 700 oC, a estrutura de multicamadas é destruída pela difusão dos átomos de Ge. Para temperaturas de 700 oC, os
NCs formados apresentam estrutura cristalina de boa qualidade.
É efectuada uma comparação da ordem e do arranjo espacial dos NCs formados
nas diferentes matrizes a partir dos resultados de medidas GISAXS. Observa-se a formação
espontânea de nanopartículas de Ge ordenadas regularmente. Até agora, estas
estruturas foram observadas e explicadas satisfatoriamente apenas em sistemas crescidos
em matrizes cristalinas. Os resultados aqui apresentados mostram a possibilidade
de formação em matrizes amorfas, com QDs de Ge auto-organizados numa rede de
tridimensional do tipo BCt. Os fenómenos observados são explicados por modelo simplificado
de Monte-Carlo. Os resultados mostram, também, a influência da correlação
espacial nas propriedades físicas das nanopartículas formadas, tais como as suas dimensões
e propriedades de comportamento colectivo resultante de um arranjo regular
espacial dos QDs. The work described in this dissertation is devoted to study the structural properties of semiconductor nanocrystals (NCs) embedded in dielectric matrices.NCs were produced by RF-magnetron sputtering technique, and subsequently heat treatments in different atmospheres and temperatures. The aim was to find the optimal experimental conditions that promote the formation of NCs with uniform size, high density and good crystallinity, and we study the arragement of the NCs in different matrix. NCs embedded in dielectric matrices were characterized by X-ray diffraction (XRD), grazing incident small angle X-ray scattering (GISAXS), Raman spectroscopy, high resolution transmission electron microscopy (HRTEM) and Rutherford backscattering spectrometry. The NCs size, size distribution and the spatial arrangement were determined by GISAXS and TEM measurements, while Raman, HRTEM and diffraction measurements provided the access to the NCs composition and crystalline structure. The results of analysis show that the average size of NCs and the composition of Si1−xGex heterostructure are very sensitive to the parameters of deposition and annealing procedures. We verified that Ge NCs in Al2O3 matrix are under compressive stress for big sizes. In fact, under determinate conditions alumina matrix can crystallize and promote the stress in crystal during the heating/cooling. In some cases, during the thermal treatment the Ge oxidizes and forms GeO, which is volatile and disappears from the film. The previously formed lattice remained as a lattice of nanometric voids. For Si1−xGex system, we observed the formation of NCs with different Ge composition (0 < x ≤ 1), small sizes, narrow size distribution and well distributed in SiO2 matrix. The study of Raman frequencies of the vibrational modes Ge-Ge and Si-Ge as a function of alloy composition is presented. SiO2/Si1−xGex+SiO2/SiO2 multilayer structures were produced. The multilayers were annealed at temperature ranging between 700 oC to 1000 oC. It is shown that for temperatures higher than 700 oC the multilayers structures are destroyed to the diffusion, but the NCs formed still present good cristallinity. Finally, a comparison of the order and the spatial arrangement of NCs formed in different matrices was performed by GISAXS analysis. Especially interesting is the observation of spontaneous formation of regularly ordered Ge nanoparticles. Until now, such structures were observed and explained satisfactorily only in crystalline systems. Our results show the possibility of Ge NCs formation in amorphous matrices where the structure and ordering mechanisms are completely differents. The observed phenomena are explained and simulated by a simple Monte-Carlo model. The results also show the influence of spatial correlation on physical properties of formed NCs such as their sizes and very interesting collective behavior properties induced by a regular spatial arrangement. |
Tipo: | Tese de doutoramento |
Descrição: | Tese de doutoramento em Ciências (área de especialização em Física) |
URI: | https://hdl.handle.net/1822/12278 |
Acesso: | Acesso restrito UMinho |
Aparece nas coleções: | CDF - FMNC - Teses de Doutoramento/PhD Thesis |
Ficheiros deste registo:
Ficheiro | Descrição | Tamanho | Formato | |
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Sara Raquel da Costa Pinto.pdf Acesso restrito! | 7,17 MB | Adobe PDF | Ver/Abrir |