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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
Dez-2015Multifunctional Ti–Me (Me=Al, Cu) thin film systems for biomedical sensing devicesLopes, Cláudia Jesus Ribeiro; Vieira, M.; Borges, Joel Nuno Pinto; Fernandes, J.; Rodrigues, M. S.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Apreutesei, M.; Steyer, P.; Tavares, C. J.; Cunha, L.; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
2018Zr-O-N coatings for decorative purposes: study of the system stability by exploration of the deposition parameter spaceOliveira, C. I. da Silva; Martínez Martinez, Diego; Cunha, L.; Rodrigues, M. S.; Borges, J.; Lopes, C.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Apreutesei, M.ArtigoAcesso restrito UMinho
Abr-2010Functional and optical properties of Au :TiO2 nanocomposite films : the influence of thermal annealingTorrell, M.; Cunha, L.; Cavaleiro, A.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Vaz, F.ArtigoAcesso aberto
Abr-2011Tuning of the surface plasmon resonance in TiO2/Au thin films grown by magnetron sputtering : the effect of thermal annealingTorrell, M.; Kabir, R.; Cunha, L.; Vasilevskiy, Mikhail; Vaz, F.; Cavaleiro, A.; Alves, E.; Barradas, N. P.ArtigoAcesso aberto
25-Jun-2013Development of tantalum oxynitride thin films produced by PVD: study of structural stabilityCristea, D.; Crisan, A.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Moura, C.; Vaz, F.; Cunha, L.ArtigoAcesso restrito UMinho
Jun-2013Influence of thermal annealing on structural and optical properties of Au:TiO2 nanocomposite filmMarin, A.; Munteanu, D.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Cunha, L.; Moura, C.ArtigoAcesso restrito UMinho
2013Electrical and photocatalytic behaviour of TAOxNy magnetron sputtered thin solid filmsCristea, D.; Crisan, A.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Costa, P.; Lanceros-Méndez, S.; Cunha, L.ArtigoAcesso restrito UMinho
Jan-2011Structural and optical properties of Ag: TiO2 nanocomposite films prepared by magnetron sputteringAdochite, R.; Torrell, M.; Cunha, L.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Cavaleiro, A.; Rivière, J. P.; Eyidi, D.; Vaz, F.ArtigoAcesso aberto
1-Jul-2017Optical and structural analysis of solar selective absorbing coatings based on AlSiOx:W cermetsDias, D.; Rebouta, L.; Costa, P.; Al-Rjoub, A.; Benelmeki, M.; Tavares, C. J.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Santilli, P.; Pischow, K.ArtigoAcesso aberto
15-Out-2015Study of the electrical behavior of nanostructured Ti–Ag thin films, prepared by glancing angle depositionLopes, Cláudia Jesus Ribeiro; Pedrosa, P.; Martin, N.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
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