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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2009The role of modulated IR radiometry measurements in the characterization of Zr-O-N thin filmsMacedo, Francisco; Carvalho, Pedro; Cunha, L.; Vaz, F.; Gibkes, Juergen; Bein, Bruno K.; Plezl, JosefArtigoAcesso aberto
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