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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2010Raman study of doped-ZnO thin films grown by rf sputteringCerqueira, M. F.; Rolo, Anabela G.; Viseu, T. M. R.; Campos, J. Ayres de; Arôso, T. de Lacerda; Oliveira, Fernando; Vasilevskiy, Mikhail; Alves, E.Artigo em ata de conferênciaAcesso aberto
Abr-2010Erbium-doped nanocrystalline silicon thin films produced by RF sputtering: annealing effect on the ER emissionCerqueira, M. F.; Monteiro, T.; Soares, Manuel Jorge; Kozanecki, A.; Alpuim, P.; Alves, E.Artigo em ata de conferênciaAcesso aberto
2010Amorphous silicon thin-film solar cells deposited on flexible substrates using different zinc oxide layersAlpuim, P.; Samantilleke, A. P.; Marins, E.; Oliveira, F.; Cerqueira, M. F.; Rebouta, L.; Stefanov, S.; Chiussi, S.; Serra, C.; Bouree, J. E.Artigo em ata de conferênciaAcesso aberto
2010Effect of grain size and hydrogen passivation on the electrical properties of nanocrystalline silicon filmsCerqueira, M. F.; Semikina, T. V.; Baidus, N. V.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
2010Crystal size and crystalline volume fraction effects on the Erbium emission of nc-Si:Er grown by r.f. sputteringCerqueira, M. F.; Stepikhova, M.; Kozanecki, A.; Andrês, G.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
2010Room temperature paramagnetism of ZnO:Mn films grown by RF-sputteringOliveira, Filipe André; Cerqueira, M. F.; Vasilevskiy, Mikhail; Viseu, T. M. R.; Campos, J. Ayres de; Rolo, Anabela G.; Martins, J. S.; Sobolev, N. A.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
2010Electrical and raman scattering studies of ZnO:P and ZnO:Sb thin filmsCampos, J. Ayres de; Viseu, T. M. R.; Rolo, Anabela G.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Lacerda-Arôso, T. de Lacerda; Cerqueira, M. F.ArtigoAcesso aberto
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