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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
15-Out-2015Study of the electrical behavior of nanostructured Ti–Ag thin films, prepared by glancing angle depositionLopes, Cláudia Jesus Ribeiro; Pedrosa, P.; Martin, N.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
2015Optical properties of zirconium oxynitride films: the effect of composition, electronic and crystalline structuresCarvalho, P.; Borges, Joel Nuno Pinto; Rodrigues, M. S.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Espinós, J. P.; González-Elipe, A. R.; Cunha, L.; Marques, L.; Vasilevskiy, Mikhail; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
3-Set-2015Composition and structure variation for magnetron sputtered tantalum oxynitride thin films, as function of deposition parametersCristea, D.; Pătru, M.; Crisan, A.; Munteanu, D.; Crăciun, D.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Apreutesei, M.; Moura, C.; Cunha, L.ArtigoAcesso restrito UMinho
15-Ago-2017Characterization of magnetron sputtered sub-stoichiometric CrAlSiNx and CrAlSiOyNx coatingsAl-Rjoub, A.; Costa, P.; Rebouta, L.; Cerqueira, M. F.; Alpuim, P.; Barradas, N. P.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
2014IBA study of SiGe/SiO2 nanostructured multilayersBarradas, N. P.; Alves, E.; Vieira, E. M. F.; Parisini, A.; Conde, O.; Martín-Sánchez, J.; Rolo, Anabela G.; Chahboun, A.; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso restrito UMinho
2016Functional behaviour of TiO2films doped with noble metalsRodrigues, M. S.; Borges, J.; Gabor, C.; Munteanu, D.; Apreutesei, M.; Steyer, P.; Lopes, C.; Pedrosa, P.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Cunha, L.; Martínez-Martínez, D.; Vaz, F.ArtigoAcesso aberto
Set-2015Raman study of insulating and conductive ZnO: (Al, Mn) thin filmsCerqueira, M. F.; Viseu, T. M. R.; Campos, J. Ayres de; Rolo, Anabela G.; Lacerda-Arôso, T. de; Oliveira, F.; Bogdanovic-Radovic, I.; Alves, E.; Vasilevskiy, MikhailArtigoAcesso aberto
2015Biological behaviour of thin films consisting of Au nanoparticles dispersed in a TiO2 dielectric matrixBorges, Joel Nuno Pinto; Costa, D.; Antunes, E.; Lopes, Cláudia Jesus Ribeiro; Rodrigues, M. S.; Apreutesei, M.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Pedrosa, P.; Moura, C.; Cunha, L.; Polcar, T.; Vaz, F.; Sampaio, P.ArtigoAcesso restrito UMinho
24-Jul-2017SiGe layer thickness effect on the structural and optical properties of well-organized SiGe/SiO2 multilayersVieira, E. M. F.; Toudert, J.; Rolo, Anabela G.; Parisini, A.; Leitão, J. P.; Correia, M. R.; Franco, N.; Alves, E.; Chahboun, Adil; Martín-Sánchez, J.; Serna, R.; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso restrito UMinho
2019Influence of Al/Si atomic ratio on optical and electrical properties of magnetron sputtered Al1-xSixOy coatingsCosta, Pedro Miguel Pinto; Al-Rjoub, A.; Rebouta, L.; Manninen, Nora Kristiina Alves Sousa; Alves, D.; Almeida, B. G.; Barradas, N. P.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
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