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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
15-Out-2015Study of the electrical behavior of nanostructured Ti–Ag thin films, prepared by glancing angle depositionLopes, Cláudia Jesus Ribeiro; Pedrosa, P.; Martin, N.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
2018In-situ XRD vs ex-situ vacuum annealing of tantalum oxynitride thin films: Assessments on the structural evolutionCunha, L.; Apreutesei, M.; Moura, C.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Cristea, D.ArtigoAcesso restrito UMinho
8-Jan-2015Solar selective absorbers based on Al2O3:W cermets and AlSiN/AlSiON layersRebouta, L.; Sousa, A.; Capela, Paulina Araújo; Andritschky, M.; Santilli, P.; Matilainen, A.; Pischow, K.; Barradas, N. P.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
2018A design of selective solar absorber for high temperature applicationsAl-Rjoub, A.; Rebouta, L.; Costa, P.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Ferreira, P. J.; Abderrafi, K.; Matilainen, A.; Pischow, K.ArtigoAcesso aberto
2015Optical properties of zirconium oxynitride films: the effect of composition, electronic and crystalline structuresCarvalho, P.; Borges, Joel Nuno Pinto; Rodrigues, M. S.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Espinós, J. P.; González-Elipe, A. R.; Cunha, L.; Marques, L.; Vasilevskiy, Mikhail; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
2018Zr-O-N coatings for decorative purposes: study of the system stability by exploration of the deposition parameter spaceOliveira, C. I. da Silva; Martínez Martinez, Diego; Cunha, L.; Rodrigues, M. S.; Borges, J.; Lopes, C.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Apreutesei, M.ArtigoAcesso restrito UMinho
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