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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2010Structural and Raman characterization of nanogranular BaTiO3-NiFe2O4 thin films deposited by laser ablation on Si/Pt substratesGonçalves, J. R.; Barbosa, José Gusman; Sá, P.; Mendes, J. A.; Rolo, Anabela G.; Almeida, B. G.Artigo em ata de conferênciaAcesso aberto
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