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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2017Influence of the sputtering pressure on the morphological features and electrical resistivity anisotropy of nanostructured titanium filmsPedrosa, Paulo Eduardo Teixeira Baptista; Ferreira, Armando José Barros; Cote, Jean-Marc; Martin, Nicolas; Yazdi, Mohammad Arab Pour; Billard, Alain; Lanceros-Méndez, S.; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
2018Nano-sculptured Janus-like TiAg thin films obliquely deposited by GLAD co-sputtering for temperature sensingPedrosa, Paulo Eduardo Teixeira Baptista; Ferreira, Armando José Barros; Martin, Nicolas; Yazdi, Mohammad Arab Pour; Billard, Alain; Lanceros-Méndez, S.; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
2011AlNxOy thin films for electrical applicationsBorges, Joel Nuno Pinto; Arvinte, R.; Sousa, R. E.; Vaz, F.; Marques, L.Resumo em ata de conferência Acesso aberto
2011Preparation and characterization of CrNxOy thin films: The effect of composition and structural features on the electrical behaviorArvinte, R.; Borges, Joel Nuno Pinto; Sousa, R. E.; Munteanu, Florentina-Daniela; Barradas, N. P.; Alves, E.; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
2010AlNxOy thin films deposited by DC reactive magnetron sputteringBorges, Joel Nuno Pinto; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
Abr-2013Tuneable properties of aluminium oxynitride thin filmsBorges, Joel Nuno Pinto; Barradas, Nuno P.; Alves, Eduardo; Martin, Nicolas; Beaufort, Marie France; Camelio, Sophie; Eyidi, Dominique; Girardeau, Thierry; Paumier, Fabien; Rivière, J. P.; Vaz, F.; Marques, L.Capítulo de livroAcesso restrito UMinho
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