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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2013Influence of stoichiometry and structure on the optical properties of AlNxOy filmsBorges, Joel Nuno Pinto; Barradas, N. P.; Alves, Eduardo; Beaufort, Marie France; Eyidi, Dominique; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
2013Relationship between electromechanical response and percolation threshold in carbon nanotube/poly(vinylidene fluoride) compositesFerreira, A.; Martinez, M. T.; Ansón-Casaos, A.; Gómez-Pineda, L. E.; Vaz, F.; Lanceros-Méndez, S.ArtigoAcesso restrito UMinho
Dez-2013Properties of tantalum oxynitride thin films produced by magnetron sputtering: the influence of processing parametersCristea, D.; Constantin, D. G.; Crisan, A.; Abreu, C. S.; Gomes, J. R.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Moura, C.; Vaz, F.; Cunha, L.ArtigoAcesso restrito UMinho
8-Set-2013The role of composition, structure and morphology on the electrical, optical and electrochemical responses of AlNxOy filmsBorges, Joel Nuno Pinto; Martin, N.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Eyidi, D.; Girardeau, T.; Fonseca, C.; Vaz, F.; Marques, L.Comunicação em painel Acesso aberto
Set-2013Influence of composition, bonding characteristics and microstructure on the electrochemical and optical stability of AlOxNy thin filmsBorges, Joel Nuno Pinto; Fonseca, C.; Barradas, Nuno P.; Alves, Eduardo; Girardeau, Thierry; Paumier, Fabien; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
2013Influence of composition, bonding characteristics and microstructure on the properties of AlNxOy filmsBorges, Joel Nuno Pinto; Martin, Nicola; Barradas, Nuno P.; Alves, Eduardo; Rivière, J. P.; Eyidi, Dominique; Beaufort, Marie France; Girardeau, Thierry; Paumier, Fabien; Fonseca, Carlos; Vaz, F.; Marques, L.Comunicação oral Acesso restrito UMinho
Abr-2013Tuneable properties of aluminium oxynitride thin filmsBorges, Joel Nuno Pinto; Barradas, Nuno P.; Alves, Eduardo; Martin, Nicolas; Beaufort, Marie France; Camelio, Sophie; Eyidi, Dominique; Girardeau, Thierry; Paumier, Fabien; Rivière, J. P.; Vaz, F.; Marques, L.Capítulo de livroAcesso restrito UMinho
25-Jun-2013Development of tantalum oxynitride thin films produced by PVD: study of structural stabilityCristea, D.; Crisan, A.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Moura, C.; Vaz, F.; Cunha, L.ArtigoAcesso restrito UMinho
2013Development of a quasi-dry electrode for EEG recordingMota, Armando R.; Duarte, L.; Rodrigues, D.; Martins, A. C.; Machado, A. V.; Vaz, F.; Fiedler, P.; Haueisen, J.; Nóbrega, J. M.; Fonseca, C.ArtigoAcesso restrito UMinho
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