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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2011Revestimentos decorativos pelo efeito SPR obtido pela adição de Au a matrizes dieléctricasFigueiredo, N. M.; Vaz, F.; Cunha, L.; Cavaleiro, A.ArtigoAcesso aberto
2011Electrical properties of AlNxOy deposited by DC magnetron sputteringBorges, Joel Nuno Pinto; Arvinte, R.; Ramos, Marta M. D.; Martin, N.; Vaz, F.; Marques, L.Poster em conferênciaAcesso aberto
2011AlNxOy thin films for electrical applicationsBorges, Joel Nuno Pinto; Arvinte, R.; Sousa, R. E.; Vaz, F.; Marques, L.Resumo em ata de conferência Acesso aberto
2011Preparation and characterization of CrNxOy thin films: The effect of composition and structural features on the electrical behaviorArvinte, R.; Borges, Joel Nuno Pinto; Sousa, R. E.; Munteanu, Florentina-Daniela; Barradas, N. P.; Alves, E.; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
25-Jul-2011Sputter deposition of thin films on different substrate materials analyzed by means of modulated IR radiometryMacedo, Francisco; Chotikaprakhan, S.; Kijamnajsuk, Puchong; Vaz, F.; Faria Junior, Roberto; Gibkes, Juergen; Pelzl, J.; Bein, Bruno K.ArtigoAcesso restrito UMinho
Jul-2011Electrical properties of AlNxOy thin films deposited by DC magnetron sputteringBorges, Joel Nuno Pinto; Arvinte, R.; Martin, N.; Vaz, F.; Marques, L.Poster em conferênciaAcesso aberto
2011Optical properties of AlNxOy thin films deposited by DC magnetron sputteringBorges, Joel Nuno Pinto; Alves, E.; Vaz, F.; Marques, L.Resumo em ata de conferência Acesso restrito UMinho
31-Out-2011Structure and chemical bonds in reactively sputtered black Ti–C–N–O thin filmsChappé, J. M.; Marco de Lucas, M. C.; Cunha, L.; Moura, C.; Pierson, J. F.; Imhoff, L.; Heintz, O.; Potin, V.; Bourgeois, S.; Vaz, F.ArtigoAcesso aberto
Ago-2011Optical properties of AlNxOy thin films deposited by DC magnetron sputteringBorges, Joel Nuno Pinto; Alves, E.; Vaz, F.; Marques, L.Artigo em ata de conferênciaAcesso aberto
Jan-2011Structural and optical properties of Ag: TiO2 nanocomposite films prepared by magnetron sputteringAdochite, R.; Torrell, M.; Cunha, L.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Cavaleiro, A.; Rivière, J. P.; Eyidi, D.; Vaz, F.ArtigoAcesso aberto
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