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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
15-Out-2015Study of the electrical behavior of nanostructured Ti–Ag thin films, prepared by glancing angle depositionLopes, Cláudia Jesus Ribeiro; Pedrosa, P.; Martin, N.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
2015Electrochemical and structural characterization of nanocomposite Agy:TiNx thin films for dry bioelectrodes: the effect of the N/Ti ratio and Ag contentPedrosa, Paulo Eduardo Teixeira Baptista; Machado, D.; Fiedler, P.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Haueisen, J.; Vaz, F.; Fonseca, C.ArtigoAcesso restrito autor
1-Jan-2015Ag (y) :TiN (x) thin films for dry biopotential electrodes: the effect of composition and structural changes on the electrical and mechanical behavioursPedrosa, P.; Machado, D.; Borges, Joel Nuno Pinto; Rodrigues, M. S.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Martin, N.; Evaristo, M.; Cavaleiro, A.; Fonseca, C.; Vaz, F.ArtigoAcesso restrito UMinho
2018A design of selective solar absorber for high temperature applicationsAl-Rjoub, A.; Rebouta, L.; Costa, P.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Ferreira, P. J.; Abderrafi, K.; Matilainen, A.; Pischow, K.ArtigoAcesso aberto
2014IBA study of SiGe/SiO2 nanostructured multilayersBarradas, N. P.; Alves, E.; Vieira, E. M. F.; Parisini, A.; Conde, O.; Martín-Sánchez, J.; Rolo, Anabela G.; Chahboun, A.; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso restrito UMinho
2012Characterization of TiAlSiN/TiAlSiON/SiO2 optical stack designed by modelling calculations for solar selective applicationsRebouta, L.; Capela, Paulina Araújo; Andritschky, M.; Matilainen, A.; Santilli, P.; Pischow, K.; Alves, E.ArtigoAcesso aberto
2013On the formation of an interface amorphous layer in nanostructured ferroelectric Ba0.8Sr0.2TiO3 thin films integrated on Pt-Si and its effect on the electrical propertiesSilva, J. P. B.; Sekhar, K. C.; Rodrigues, S. A. S.; Pereira, Mário R.; Parisini, A.; Alves, E.; Barradas, N. P.; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso restrito UMinho
2011Preparation and characterization of CrNxOy thin films: The effect of composition and structural features on the electrical behaviorArvinte, R.; Borges, Joel Nuno Pinto; Sousa, R. E.; Munteanu, Florentina-Daniela; Barradas, N. P.; Alves, E.; Vaz, F.; Marques, L.ArtigoAcesso aberto
Abr-2012Tuning the properties of Ge-quantum dots superlattices in amorphous silica matrix through deposition conditionsPinto, S. R. C.; Buljan, M.; Chahboun, A.; Roldan, M. A.; Bernstorff, S.; Varela, M.; Pennycook, S. J.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Molina, S. I.; Ramos, Marta M. D.; Gomes, M. J. M.ArtigoAcesso restrito UMinho
3-Set-2015Composition and structure variation for magnetron sputtered tantalum oxynitride thin films, as function of deposition parametersCristea, D.; Pătru, M.; Crisan, A.; Munteanu, D.; Crăciun, D.; Barradas, N. P.; Alves, E.; Apreutesei, M.; Moura, C.; Cunha, L.ArtigoAcesso restrito UMinho
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