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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
1999Temperature dependence of the first order Raman scattering in thin films of mc-Si:HCerqueira, M. F.; Ferreira, J. A.ArtigoAcesso aberto
Ago-1999Atomistic modelling of interfacial bonding at metal-polymer interfaceRamos, Marta M. D.; Almeida, Judite P. P.ArtigoAcesso aberto
Jan-1999Study of RFe12−xMox (R =Y, Ho) compounds by neutron powder diffraction, ac susceptibility and magnetizationCampos, J. Ayres de; Ferreira, L. P.; Cruz, M. M.; Gil, J. M.; Mendes, P. J.; Ferreira, I. C.; Bacmann, M.; Soubeyroux, J.-L.; Fruchart, D.; Godinho, M.; Campos, N. Ayres deArtigoAcesso aberto
1-Out-1999Amorphous and microcrystalline silicon films grown at low temperatures by radio-frequency and hot-wire chemical vapor depositionAlpuim, P.; Chu, Virginia; Conde, João PedroArtigoAcesso aberto
1-Jan-1999Characterization of titanium silicon nitride films deposited by PVDVaz, F.; Rebouta, L.; da Silva, R. M. C.; da Silva, M. F.; Soares, J. C.ArtigoAcesso aberto
28-Set-1999Study of cationic N-isopropylacrylamide-styrene copolymer latex particles using fluorescent probesCastanheira, Elisabete M. S.; Martinho, J. M.G.; Duracher, D.; Charreyre, M. T.; Elaïssari, A.; Pichot, C.ArtigoAcesso aberto
Dez-1999The mesoscopic modeling of laser ablationStoneham, A. M.; Ramos, Marta M. D.; Ribeiro, R. M.ArtigoAcesso aberto
1999Simulation of the interband s–d and intraband s–s electron–phonon contributions to the temperature dependence of the electrical resistivity in Fe/Cr multilayersAlmeida, B. G.; Amaral, V. S.; Sousa, J. B.; Colino, R.; Schuller, I. K.; Moschalkov, V. V.; Bruynseraede, Y.ArtigoAcesso aberto
1999Structural analysis of Ti1−xSixNy nanocomposite films prepared by reactive magnetron sputteringVaz, Filipe; Rebouta, L.; Almeida, B. G.; Goudeau, P.; Pacaud, J.; Rivière, J. P.; Bessa e Sousa, J.ArtigoAcesso aberto
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