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| Data | Título | Autor(es) | Tipo | Acesso |
|---|---|---|---|---|
| 10-Jul-2015 | Structure dependent resistivity and dielectric characteristics of tantalum oxynitride thin films produced by magnetron sputtering | Cristea, D.; Crisan, A.; Cretu, N., et al. | Artigo | Acesso restrito UMinho |