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https://hdl.handle.net/1822/48092| Título: | Metrologia óptica: caracterização microtopografica de superfícies |
| Autor(es): | Costa, Manuel F. M. |
| Palavras-chave: | Microtopografia Triangulação |
| Data: | 13-Fev-2015 |
| Resumo(s): | A caracterização dimensional de superficies seja rugometrica, perfilometrica ou topográfica é de enorme importancia em muitas industrias. Nesta aula breve faremos uma discussão genérica sobre o tema concretizando com a inspeção óptica não destructiva da microtopografia de superficies rugosas apresentando parte do trabalho desenvolvido no Labortáorio de Microtopografia do Departamento de Física da Universidade do Minho. |
| Tipo: | Palestra |
| URI: | https://hdl.handle.net/1822/48092 |
| Arbitragem científica: | no |
| Acesso: | Acesso aberto |
| Aparece nas coleções: | CDF - OCV - Outros Documentos/Other Documents (without refereeing) |
Ficheiros deste registo:
| Ficheiro | Descrição | Tamanho | Formato | |
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| Aula_PhD_IT_UAveiro_13fev2015.pdf | 1,25 MB | Adobe PDF | Ver/Abrir |
