Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/1822/37332

TitleAnálise de materiais e superfícies: microscopia eletrónica
Author(s)Fonseca, A. Maurício C.
Issue date2013
Abstract(s)Microscopia eletrónica de varrimento (SEM - Scanning Eletron Microscope). Espectrómetro de energia dispersiva (EDS) e espectrómetro por dispersão de comprimento de onda (WDS). Microscopia eletrónica de transmissão (TEM). Microscopia de transmissão eletrónica de varrimento (STEM) Microscópio eletrónico de reflexão (REM) Microscopia eletrónica de baixa tensão (LSEM) Microscopias de sonda de varrimento (SPM/AFM - Scanning Probe Microscope/) Microscópio ótico de campo próximo SNOM
TypePedagogical publication
URIhttp://hdl.handle.net/1822/37332
AccessRestricted access (UMinho)
Appears in Collections:CDQuim - Textos e publicações de natureza pedagógica

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Análise de materiais e superfícies - módulo miscroscopia eletrónica e MFA.pdf
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