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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
Abr-2010Erbium-doped nanocrystalline silicon thin films produced by RF sputtering: annealing effect on the ER emissionCerqueira, M. F.; Monteiro, T.; Soares, Manuel Jorge; Kozanecki, A.; Alpuim, P.; Alves, E.Artigo em ata de conferênciaAcesso aberto
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