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DataTítuloAutor(es)TipoAcesso
2013Multi-dimensional modelling of electrostatic forces between atomic force microscopy tip and dielectric surfaceBoularas, A.; Baudouin, F.; Teyssedre, Gilles; Villeneuve-Faure, C.; Clain, StéphaneArtigo em ata de conferênciaAcesso restrito UMinho
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