Percorrer por assunto Microstructure characterization
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Data | Título | Autor(es) | Tipo | Acesso |
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24-Jul-2012 | Electron backscatter diffraction analysis of ZnO:Al thin films | Garcia, Cibeli Navarro Belletti; Ariza, E.; Tavares, C. J., et al. | Artigo | Acesso restrito UMinho |