Percorrer por assunto X-ray diffractometry
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| Data | Título | Autor(es) | Tipo | Acesso |
|---|---|---|---|---|
| 2003 | Influence of crystals distribution on the photoluminescence properties of nanocrystalline silicon thin films | Cerqueira, M. F.; Stepikhova, M.; Losurdo, M., et al. | Artigo | Acesso aberto |