Percorrer por autor Toudert, J. Subscrever estatísticas do autor Toudert, J.
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| Data | Título | Autor(es) | Tipo | Acesso |
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| 24-Jul-2017 | SiGe layer thickness effect on the structural and optical properties of well-organized SiGe/SiO2 multilayers | Vieira, E. M. F.; Toudert, J.; Rolo, Anabela G., et al. | Artigo | Acesso restrito UMinho |